六西格玛管理中常用的度量指标有：西格玛水平Z、百万机会缺陷数DPMO、单位缺陷数DPU、首次产出率FTY、滚动产出率RTY等，它们覆盖了各种连续型和离散型测量数据的情况。这里我们重点介绍西格玛水平Z和百万机会缺陷数DPMO的统计与计算方法如下：
（一）西格玛水平Z：
对应于过程输出无偏移的情况，西格玛水平Z是指规格范围（USL-LSL）与2σ的比值，可由式5-6-1求得：
例5-6-1：某送餐公司为某学校送午餐，学校希望在中午12：00送到，但实际总有误差，因而提出送餐的时间限定在11：55分至12：05分之间，即：LSL为11：55分，USL为12：05分。过去一个星期来，该送餐公司将午餐送达的时间为：11：50、11：55、12：00、12：05、12：10，求该公司准时送餐的西格玛水平。
这里，将送达时间按相对于目标值12：00的差值进行变换，记录为-10、-5、0、5、10，则：
用样本标准差S估计总体标准差，得到=S=7.91，将上述参数代入式5-6-1，得：
即该公司准时送餐的西格玛水平仅为0.63。
（二）百万机会缺陷数DPMO（DefectsMillionOpportunity）
在统计和计算DPMO时，我们先要明确下述概念：
缺陷：是指产品、或服务、或过程的输出没有达到顾客要求或超出规格规定。
缺陷机会数：是指产品、或服务、或过程的输出可能出现缺陷之处的数量，如：一块线路板有200个焊点就有200个出现焊接缺陷机会；一张申请表有15个栏目就有15个出现填表缺陷的机会。
如果我们统计了过程输出的缺陷数和缺陷机会数，我们就可以计算：
机会缺陷率DPO（DefectsPerOpportunity），即每次机会中出现缺陷的比率表示了每个样本量中缺陷数占全部机会数的比例。由式5-6-3计算：
例5.6.2假定这100块电路板中，每一个电路板都含有100个缺陷机会，若在制造这100个电路板时共发现21个缺陷。