低溫試驗(LowTemperatureTest-Cold)
大多數地區年平均溫度通常介於0℃~+40℃之間，一般冬天時低溫常介於-32℃~-46℃之間，-51℃出現機率則小於20%。
對於消費性電子環境試驗溫度通常介於+5℃~-5℃之間，網通類產品與工業用產品因使用壽命考量通常藉於-5℃~-20℃之間，若屬長期戶外使用之產品則建議其耐環境溫度至少應-30℃才能有足夠的可靠度水準。
為能正確觀察與驗證產品在低溫環境下之冷效應，國際電工委員會(InternationalElectrotechnicalCommission-簡稱IEC)對於試驗前處理、試驗後處理、升溫速度、溫度穩定定義、溫度櫃負載條件、被測物與溫度櫃體積比等均有予以規範。
低溫試驗之應用：
在應用上通常區分為儲存低溫試驗(LowTemperatureStorageTest)與操作低溫試驗(LowTemperatureOperatingTest)，進行操作低溫試驗時強烈建議須執行低溫啟動試驗(Coldstarttest)，因在實務經驗中多數產品均存在著在低溫下出現電源無法啟動現象。若能在執行低溫試驗時伴隨著產品最低工作電壓一併進行則更佳。
常見低溫效應包括低溫無法啟動、材料龜裂、玻璃材料脆化、可動部份卡死、潤滑特性改變等現象。
常用規範
IEC、ETSI、ASTM、MIL、hp、Dell、3Com、Nortel等